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資料情報
各蔵書資料に関する詳細情報です。
No. |
所蔵館 |
資料番号 |
資料種別 |
請求番号 |
配架場所 |
帯出区分 |
状態 |
貸出
|
1 |
県立図書館 | 001001445301 | 一般書 | 549.8/ニカ/ | 自然5(54) | 館外可 | 在庫 |
○ |
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書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
タイトルコード |
1001002082845 |
書誌種別 |
図書 |
書名 |
はじめてのデバイス評価技術 |
著者名 |
二川 清(1949~)/著
|
著者名ヨミ |
ニカワ キヨシ |
版表示 |
第2版 |
出版者 |
森北出版
|
出版年月 |
2012.9 |
ページ数 |
179p |
大きさ |
22cm |
ISBN |
978-4-627-77442-1 |
分類記号9版 |
549.8 |
分類記号10版 |
549.8 |
書名ヨミ |
ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ |
注記 |
文献:p169~175 |
注記 |
初版:工業調査会 2000年刊 |
内容紹介 |
内容紹介:半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路(IC)を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。具体例・応用事例も紹介。 |
著者紹介 |
著者紹介:〈二川清〉大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。日本電気株式会社(NEC)勤務を経て、金沢工業大学大学院客員教授、大阪大学大学院特任教授。 |
件名1 |
半導体
|
言語区分 |
日本語 |
内容細目
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