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資料情報
各蔵書資料に関する詳細情報です。
No. |
所蔵館 |
資料番号 |
資料種別 |
請求番号 |
配架場所 |
帯出区分 |
状態 |
貸出
|
1 |
県立図書館 | 001000475200 | 一般書 | 549.7/コバ/ | 閉架積層 | 館外可 | 在庫 |
○ |
関連資料
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書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
タイトルコード |
1001000836017 |
書誌種別 |
図書 |
書名 |
VLSIプロセス技術 |
副書名 |
高歩留りのための問題点とその解決 |
著者名 |
小林 稔(1932~)/著
中島 蕃/著
垂井 康夫(1929~)/監修
|
著者名ヨミ |
コバヤシ ミノル ナカジマ シゲル タルイ ヤスオ |
版表示 |
第2版 |
出版者 |
日刊工業新聞社
|
出版年月 |
2002.3 |
ページ数 |
169p |
大きさ |
22cm |
ISBN |
4-526-04905-0 |
分類記号9版 |
549.7 |
分類記号10版 |
549.7 |
書名ヨミ |
ヴイエルエスアイ プロセス ギジュツ |
副書名ヨミ |
コウブドマリ ノ タメ ノ モンダイテン ト ソノ カイケツ |
内容紹介 |
内容紹介:LSI製造プロセス開発で発生するプロセストラブルを主体に具体的事例を系統的に示すとともに、LSIの故障解析技術について現状も含めて解説。製造プロセス技術の評価と検討、後工程についても追加した、93年刊の第2版。 |
著者紹介 |
著者紹介:〈小林〉元日本電信電話会社、NEL勤務。工学博士。 |
件名1 |
集積回路
|
言語区分 |
日本語 |
内容細目
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