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蔵書情報

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所蔵数 1 在庫数 1 予約数 0

書誌情報サマリ

書名

半導体デバイスの不良・故障解析技術　　信頼性技術叢書　　

著者名 二川 清／編著
著者名ヨミ ニカワ キヨシ
出版者 日科技連出版社
出版年月 2019.12

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No. 所蔵館 資料番号 資料種別 請求番号 配架場所 帯出区分 状態 貸出
1 県立図書館001002053294一般書549.8/ﾆｶ/自然５(54)館外可在庫  ○

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書誌詳細

この資料の書誌詳細情報です。

タイトルコード 1003000497209
書誌種別 図書
書名 半導体デバイスの不良・故障解析技術　　信頼性技術叢書　　
信頼性技術叢書
著者名 二川 清／編著 　 上田 修／著 　 山本 秀和／著
著者名ヨミ ニカワ キヨシ　ウエダ オサム　ヤマモト ヒデカズ
出版者 日科技連出版社
出版年月 2019.12
ページ数 8,218p
大きさ 21cm
ISBN 4-8171-9685-9
ISBN 978-4-8171-9685-9
分類記号９版 549.8
分類記号１０版 549.8
書名ヨミ ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
内容紹介 半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を解説。それぞれの分野の側面を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択の演習問題も掲載。
著者紹介 1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科物理系修士課程修了。工学博士。芝浦工業大学非常勤講師。信頼性技術功労賞など受賞。著書に「はじめてのデバイス評価技術」など。
件名1 半導体
件名2 信頼性(工学)
言語区分 日本語



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