蔵書情報
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書誌情報サマリ
| 書名 |
X線反射率法入門
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| 著者名 |
桜井 健次/編著
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| 著者名ヨミ |
サクライ ケンジ |
| 版表示 |
新版 |
| 出版者 |
講談社
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| 出版年月 |
2018.6 |
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資料情報
各蔵書資料に関する詳細情報です。
| No. |
所蔵館 |
資料番号 |
資料種別 |
請求番号 |
配架場所 |
帯出区分 |
状態 |
貸出
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| 1 |
県立図書館 | 001001810785 | 一般書 | 549.8/サク/ | 自然5(54) | 館外可 | 在庫 |
○ |
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書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
| タイトルコード |
1003000362012 |
| 書誌種別 |
図書 |
| 書名 |
X線反射率法入門 |
| 著者名 |
桜井 健次/編著
|
| 著者名ヨミ |
サクライ ケンジ |
| 版表示 |
新版 |
| 出版者 |
講談社
|
| 出版年月 |
2018.6 |
| ページ数 |
14,369p |
| 大きさ |
21cm |
| ISBN |
4-06-153296-0 |
| ISBN |
978-4-06-153296-0 |
| 分類記号9版 |
549.8 |
| 分類記号10版 |
549.8 |
| 書名ヨミ |
エックスセン ハンシャリツホウ ニュウモン |
| 内容紹介 |
X線反射率法の専門的入門書。X線反射率の基礎から、測定装置と測定方法、データ解析法、微小領域分析およびイメージングへの展開、X線反射率法の応用、併用すると有意義な関連技術、中性子の利用までを解説する。 |
| 著者紹介 |
東京大学大学院工学系研究科博士課程修了。工学博士。国立研究開発法人物質・材料研究機構先端材料解析研究拠点上席研究員。筑波大学大学院教授を兼務。 |
| 件名1 |
薄膜
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| 件名2 |
エックス線
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| 件名3 |
非破壊検査
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| 言語区分 |
日本語 |
内容細目
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