蔵書情報
この資料の蔵書に関する統計情報です。現在の所蔵数 在庫数 予約数などを確認できます。
書誌情報サマリ
書名 |
半導体・電子材料分析 試料分析講座
|
著者名 |
日本分析化学会/編
|
著者名ヨミ |
ニホン ブンセキ カガクカイ |
出版者 |
丸善出版
|
出版年月 |
2013.7 |
この資料に対する操作
電子書籍を読むを押すと 電子図書館に移動しこの資料の電子書籍を読むことができます。
資料情報
各蔵書資料に関する詳細情報です。
No. |
所蔵館 |
資料番号 |
資料種別 |
請求番号 |
配架場所 |
帯出区分 |
状態 |
貸出
|
1 |
県立図書館 | 001001928686 | 一般書 | 549.8/ハン/ | 自然5(54) | 館外可 | 在庫 |
○ |
関連資料
この資料に関連する資料を 同じ著者 出版年 分類 件名 受賞などの切り口でご紹介します。
書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
タイトルコード |
1001002184557 |
書誌種別 |
図書 |
書名 |
半導体・電子材料分析 試料分析講座 |
|
試料分析講座 |
著者名 |
日本分析化学会/編
|
著者名ヨミ |
ニホン ブンセキ カガクカイ |
出版者 |
丸善出版
|
出版年月 |
2013.7 |
ページ数 |
300p |
大きさ |
21cm |
ISBN |
978-4-621-08700-8 |
分類記号9版 |
549.8 |
分類記号10版 |
549.8 |
書名ヨミ |
ハンドウタイ デンシ ザイリョウ ブンセキ |
注記 |
文献:章末 |
内容紹介 |
内容紹介:半導体・電子材料を用いたナノ構造デバイスの研究開発、不具合診断、製造装置の条件出しなどに用いられる種々の分析法の原理・特徴を解説し、応用・分析例を示す。今後の利用が期待される分析・計測法についても取り上げる。 |
件名1 |
半導体
|
件名2 |
電子材料
|
件名3 |
分析化学
|
言語区分 |
日本語 |
内容細目
もどる